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首頁-產(chǎn)品系統(tǒng)-放射影像質(zhì)控設(shè)備-CRDR機(jī)檢測(cè)工具-KR002低對(duì)比度測(cè)試模體
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簡(jiǎn)要描述：低對(duì)比度測(cè)試卡，測(cè)試卡由20mm厚的鋁板制成。在該鋁板上均布lcm孔徑圓孔，孔的深度（mm）及對(duì)比度（括號(hào)內(nèi)數(shù)值96）0.07mm（03596）到32mm（16%）變化共計(jì)19個(gè)圓孔
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低對(duì)比度測(cè)試卡，測(cè)試卡由20mm厚的鋁板制成。
在該鋁板上均布lcm孔徑圓孔，孔的深度（mm）及對(duì)比度（括號(hào)內(nèi)數(shù)值96）0.07mm（03596）到32mm（16%）變化共計(jì)19個(gè)圓孔。它們分別是：
0.07(0.35%)、0.11(0.55%)0.15(0.75%)019(0.95)022(1196)0.26(1.3%)0.32(1.6%)、0.36(1.8%)0.44(22%)052(26%)088(44%06(53%)3668%)148(74%)176(8.8%)214(107%)2.5(12.596)2.9(14.5%)、32(16%)
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